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HyProbe 175 PIN

Fine-Pitch High-Speed Data Interface Solution 

Fine Pitch 설계로 초소형 반도체 소자의 정밀 검사를 지원합니다. 고속 데이터

전송으로 안정적인 신호 무결성을 보장합니다. 내구성 높은 프로브 구조로 반복

테스트에도 신뢰성 있는 성능을 유지합니다. 다양한 반도체 검사 공정에
유연하게 적용 가능합니다. 

  • Fine pitch connectors: 0.175mm (0.15mm~)
  • Pin 사용 수명: 약 30만 회 이상
  • 고속 데이터 전송 속도 (>30Gbps) (GSSG)
  • 손쉬운 유지보수 (측면 플레이트 분리 가능)
  • 다양한 형태의 175 PIN 보유 
  • 신속한 양산 지원 및 일관된 품질 관리
  • 맞춤형 설계 지원

Main Features


1

초미세 Fine Pitch (0.15mm)

정밀한 구조 설계로 약 0.15mm까지의 파인 
피치 (Fine Pitch) 커넥터를 지원하며, 고밀도 
설계에서 공간 효율성을 향상시킵니다. 
2

우수한 내구성 (More than 300K)

장기간 (약 30만 회 이상) 사용에도 
안정적이고 일관된 성능을 유지합니다. 

3

고속 데이터 전송 (>30Gbps(GSSG))

정밀 설계를 통해 고속 데이터(>30Gbps(GSSG)) 신호 환경에서도
안정적인 성능을 지원합니다.
4

손 쉬운 유지 보수 (핀 교체) 

측면 플레이트(Side Plate)가 분리 가능한
구조로 편리하게 핀 교체가 가능합니다. 
5

신속한 양산 지원 

인하우스(In-House) 설계 및 제조로, 단 기간에 대용량 생산 대응 및 공급을 지원합니다. 
6

일관된 품질 관리 

표준화된 품질 관리 공정을 통해 모든
제품에서 균일한 치수와 성능을 보장합니다.
7

맞춤형 설계 지원 

고객사의 시스템 및 애플리케이션
환경에 맞춘 맞춤형 설계가 가능합니다. 

Probe Pin Type


Item
Hyprobe-H
Hyprobe 175 (A)
Hyprobe 175 (M)
Hyprobe - S175 (M)
Probe Shape
Connector
Application
Camera, Display
Camera
Display
Display
Specifications

Probe Height : 4.7,6.5,7.6mm

Max. stroke : 0.35mm

Force(CNT) : 23.7gf@0.3mm

Force(PCB) : 35gf@0.15mm

Data rate : 40Gbps

Contact Resistance : 60mΩ

Max Current : 1.5A

Reliability : 500,000 cycles

Probe Height : 4.7mm

Max. stroke : 0.30mm

Force(CNT) : 18.8gf@0.25mm

Force(PCB) : 31gf@0.15mm

Data rate : 30Gbps

Contact Resistance : 100mΩ

Max Current : 1.0A

Reliability : 300,000 cycles

Probe Height : 5.0mm

Max. stroke : 0.30mm

Force(CNT) : 19.4gf@0.25mm

Force(PCB) : 43gf@0.15mm

Data rate : 30Gbps

Contact Resistance : 60mΩ

Max Current : 1.0A

Reliability : 300,000 cycles

Probe Height : 3.5mm

Max. stroke : 0.30mm

Force(CNT) : 22gf@0.25mm

Force(PCB) : 40gf@0.15mm

Data rate : 10Gbps

Contact Resistance : 60mΩ

Max Current : 1.5A

Reliability : 300,000 cycles

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