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Telecentric Lens

Precision Telecentric Imaging Solution 

작업 거리 변화에도 배율이 일정하게 유지되어 정밀한 치수 측정이 가능합니다.
원근 왜곡을 최소화하여 일관되고 정확한 이미지를 제공합니다. 낮은 왜곡률과
균일한 해상력으로 정밀 검사 신뢰성을 높입니다. 반도체, 전자부품 등 고정밀
측정이 요구되는 분야에 최적화되어 있습니다. 

  • 정밀 엔지니어링 설계
  • 낮은 왜곡률
  • 다양한 화각(FOV) 지원
  • 폭넓은 호환성
  • 뛰어난 광학 성능
  • 맞춤형 설계

Main Features

1

정밀 엔지니어링 설계 

선명하고 일관된 이미지를 유지하기 위해
공차 설계를 적용하고, 제조 및 조립 공정을
세심하게 관리합니다. 
2

낮은 왜곡률 

작업 거리에 관계없이 동일한 배율로 설계되어, 어떤 각도에서도 왜곡 없는 고해상도의 선명한 이미지를 제공합니다. 
3

다양한 화각(FOV) 지원 

다양한 화각(FOV)에서 초점 조절이
가능하도록 설계된 머신 비전 렌즈입니다. 
4

폭넓은 호환성  

다층 및 광대역 코팅 설계를 적용하여 넓은 파장 범위의 다양한 애플리케이션과 호환됩니다.

5

뛰어난 광학 성능 

미광(stray light)을 최소화하는 광학 기술을
적용하여 광 투과율을 극대화하고 불필요한
산란을 줄여 최적의 성능을 보장합니다. 
6

맞춤형 설계  

컴팩트한 설계로 공간 활용도를 높이고
다른 장치와의 조립을 용이하게 합니다. 

Specifications

Item
HVO-TCL0.30x-110
HVO-TCL0.39x-140
HVO-TCL0.42x-100
HVO-TCL0.42x-120
HVO-TCL0.50x-300
HVO-TCL0.70x-140
Image
Magnification
0.30x +/-2%0.39x +/-2%0.42x +/-2%0.42x +/-2%0.50x +/-2%0.70x +/-2%
Working Distance
110 +/-4 mm140 +/-4 mm100 +/-4 mm120 +/-4 mm300 +/-4 mm140 +/-4 mm
FOV (Diagonal)
36.67 mm23.08 mm26.19 mm26.19 mm22.00 mm25.00 mm
Resolution
14.5 um12.4 um16.7 um15.3 um8.4 um6.1 um
Distortion
+/-0.40%+/-0.40%+/-0.40%+/-0.40%+/-0.40%+/-0.40%
DOF at
Best Focus
+/-0.518 mm+/-0.376 mm+/-0.685 mm+/-0.571 mm+/-0.171 mm+/-0.091 mm
Objective NA (F/#)
0.023 (F6.52)0.027 (F7.22)0.020 (F10.5)0.0219 (F9.59)0.04 (F6.25)0.055 (F6.36)
Relative Illumination
> 95%> 95%> 95%> 95%> 95%> 95%
Wavelength
VisibleVisibleVisibleVisibleVisibleVisible
Detector
2/3" C-Mount1/1.8" C-Mount2/3" C-Mount2/3" C-Mount2/3" C-Mount1/1" C-Mount

제품연혁